Il corso ha l'obiettivo di fornire una approfondita conoscenza della tecnica sperimentale di microscopia a forza atomica adatta a studiare le proprietà di superficie di nuovi materiali su scala nanometrica. Allo stesso tempo, una parte del corso sarà dedicata ai principi fondamentali della spettroscopia Raman e allo studio della relativa strumentazione, con particolare attenzione alle sue applicazioni nell’analisi di matrici ambientali. Il corso comprende lezioni teoriche, per lo studio dei principi teorici di base, e lezioni pratiche in laboratorio per approfondire la caratterizzazione strutturale dei materiali.
Prerequisiti
Chimica generale
Metodi didattici
Il corso consiste di 3 CFU di cui 1 pari a 8 ore di didattica frontale e 2 CFU pari a 22 ore di esercitazioni guidate in laboratorio.
Verifica Apprendimento
L'esame finale consiste nella compilazione di una tesina sull'argomento prevalentemente tratta da bibliografia recente.
Testi
• Ernesto Placidi, Introduzione alla microscopia a forza atomica. • Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi, Active Probe Atomic Force Microscopy - A Practical Guide on Precision Instrumentation, Springer. • Appunti di lezioni e diapositive presentate a lezione.
Contenuti
• Principi teorici di funzionamento della Microscopia a Forza Atomica (AFM) e della spettroscopia Raman; • Modalità di impiego; • Settaggio degli strumenti e preparazione del campione; • Analisi su materiali ad uso ambientale mediante entrambe le tecniche.
Lingua Insegnamento
ITALIANO
Altre informazioni
Le diapositive proiettate in aula durante il Corso sono disponibili in formato pdf sul sito Web del corso e sul portale di elearning. I docenti sono inoltre disponibili nell'orario di ricevimento per ulteriori chiarimenti sugli argomenti trattati a lezione. Diverse ore di laboratorio introducono lo studente alla manualità necessaria per preparare il campione e fare le analisi.
